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日本三丰测微仪光栅式测微头细长型542系列LGK
● 沿袭了LGF的抗振性和抗冲击性的细长型,横截面只有LGF-110L-B的1/5。
● 每种型号的分辨力可以在0.1μm, 0.5μm或1μm之间选择。
● 滑动的耐久性可至少使用1500万次以上(三丰测试)。
● 耐冲击性:100G/11ms (IEC 60068-2-27)。
日本三丰测微仪光栅式测微头细长型
规格
90°相位差,差动方形波(RS-422A等效),
最小边缘间隔:200ns用于0.1μm型,200ns用于0.5μm型,400ns用于1μm型
日本三丰测微仪光栅式测微头细长型,542系列 LGK
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