您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
技术参数:
10 µm 的 X 射线高强度、高速度的扫描分析。
样品可以置于大气中分析,的真空探针方式。
同轴观察,可以从摄像系统中选取所需的测量点,单键控制,放大倍数可至 100 倍。
可以对物质表面和内部构造同时进行分析。
主要应用:WEEE/RoHS 法令中涉及的产品有害元素的测定、珠宝首饰的成份检测、电子电路板的微区分析、考古或博物馆中对古物的分析
同时也满足科研院校在常规元素检测方面的要求
可进行样品内部从Na~ U的元素进行定性、定量分析2、X射线透射成像,可观察样品内部细微构造3、多点自动分析,一次可测99点4、能做小至10μm的微区5、两种X射线聚焦导管快速切换,可选1.2mm和10μm或100μm6、X射线与可见光同轴设计,真正做到准确定位测试部位,见即所得。7、高纯硅检测器,保证高稳定性及良好的性能
堀场微区扫描X射线荧光光谱仪 XGT-5000WR,XGT-5000WR
堀场微区扫描X射线荧光光谱仪 XGT-5000WR信息由上海首立实业有限公司为您提供,如您想了解更多关于堀场微区扫描X射线荧光光谱仪 XGT-5000WR报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
HORIBA S-316 溶剂萃取剂
Cole-Parmer® EX-增强版容积可调式移液器
HORIBA油分分析仪OCMA-555
HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
HORIBA/堀场手持式PH计D-74A-NK
群组论坛--X-荧光
您可能要找:堀场能散型XRF堀场微区扫描X射线荧光光谱仪 XGT-5000WR价格XGT-5000WR能散型XRF参数
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号