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ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置
在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上,Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术,可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描,也可对样品的内部结构透视扫描,甚至还可以实现元素扫描.
特征
XGT-5700WR系列
X线照射径
Ø3mm标准Ø100μm或Ø10μm
一次X线滤膜
Ø3mm照射径:4种自动切换Ø10μm照射径:无滤膜Ø100μm照射径:无滤膜
二次X线滤膜
用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备(ON/OFF自动切换)
X线检测器
液体氮气冷却3L
高纯度Si检测器
样品形状
不超过350×400×40mm
样品载台
扫描范围:100×100mm、 200×200mm(可选)
堀场ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置 XGT-5700WR,XGT-5700WR
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