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灵活的台式表面形貌测量设备
ContourX-200光学轮廓仪融合了表征、可定制选项和易用性等特点,可提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。ContourX-200还配有分析软件Vision64®。VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能,可访问多种预编程滤镜和分析工具,用于加工的表面,薄膜,半导体,眼科,医疗设备,MEMS和摩擦学等领域的测量分析。
高性能表面计量
* 与放大倍率无关的Z轴分辨率
* 大尺寸的标准视场
* 稳定集成防震设计
高性能测量与分析功能
* 易于使用的界面,可快速准确地获得结果
* 自动化功能用于日常测量和分析
* 广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
* 满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
布鲁克 三维光学轮廓仪ContourX-200,ContourX-200
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