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直观经济的台式粗糙度计量设备
ContourX-100光学轮廓仪是准确和可重复的非接触式表面计量设备。
该小尺寸系统采用流线型设计,结合了数十年布鲁克白光干涉仪(WLI)创新,可提供毫不逊色的2D / 3D高分辨率测量功能。满足计量要求的台式系统具有业界先进的友好用户界面,可直观访问多种预编程滤镜和分析工具,用于加工的表面,薄膜和摩擦学应用分析。
快速、可重复的三维计量
* 与放大倍率无关Z轴分辨率
* 大尺寸的标准视场
* 高稳定性和重复性的集成防震设计
高性能的测量和分析功能
* 易于使用的界面,可快速准确地获得结果
* 广泛的滤镜和分析工具选项,用于粗糙度和关键尺寸测量分析
* 满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告
bruker布鲁克三维光学轮廓仪ContourX-100,ContourX100
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