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J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA)系统
200 Femto iX LA仪器代表了基于上紧凑的台式设计的超快激光采样技术的新技术。该仪器是高度成功和久经考验的J200 Femto LA仪器的下一步发展,J200 Femto LA仪器在上拥有大的安装量。
J200 Femto iX的核心是紧凑而坚固的激光源,可从Applied Spectra获得。J200 Femto iX具有先进的硬件设计,包括智能运输气体控制,自动样品高度调节,高分辨率3D样品台,创新的样品池和LIBS(激光诱导击穿光谱)附加功能,是具创新性的飞秒可以解决苛刻的LA-ICP-MS分析的LA仪器。该仪器还配有业界的数据分析软件Clarity Femto,可进行有效的时间分辨ICP-MS信号处理,简单的定量分析,2D / 3D元素成像和样品取证。
高度,准确度和灵敏度
紧凑的台式设计
负担得起的费用
维护成本低
紧凑型高重复率飞秒激光器
智能运输气体控制
自动调整样品高度
高分辨率3D样品台
创新的样品池
串联LA-ICP-MS和LIBS分析的LIBS(激光诱导击穿光谱)附加功能
Applied Spectra Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM(玻璃中的痕量元素)以确定可以检测的质量并确定检测限(LOD)。
J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA),J200 Femto iX LA
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