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发布时间:2022年04月
多栅标准测微尺
可校准高倍率系统的畸变
多栅标准台测微尺带各种频率的栅格,可校准显微系统的畸变,栅格尺寸为0.5mm(一小格25μm),1.0mm (一小格50μm), 2.0mm (一小格100μm) 和4.0mm (一小格200μm). 本测微尺还带角度栅格(按15°分割)。玻璃基片,镀铬层,尺寸为1" x 3" x 1.5mm。
订购信息:
Multi-Grid Standard Stage Micrometer
库存 #58-607
Substrate:
Chrome on Glass
Scale Divisions:
0.5mm (25μm divisions), 1.0mm (50μm divisions), 2.0mm (100μm divisions), 4.0mm (200μm divisions), angle grid (15° segments)
Dimensions (mm):
25.4 W x 76.2 L x 1.5 T
RoHS:
符合标准
Multi-Grid Standard Stage Micrometer w/ NIST Cert
库存 #59-275
Multi-Grid Standard Stage Micrometer on Opal Glass
库存 #59-278
Chrome on Opal Glass
Multi-Grid Micrometer on Opal Glass w/ NIST Cert
库存 #59-279
多栅标准测微尺,#58-607
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