新型的DECTRIS EIGE2R X/XE 系列探测器可以为要求极为苛刻的同步辐射应用提供极致的探测性能。具有连续读数能力以及千赫兹帧速率的成像能力为时间分辨类实验和XPCS提供了一种全新的手段，使得像ptychography类的慢速扫描成像技术成为可能。高分辨率和连续的衍射实验受益于较小的成像尺寸，通过X射线的直接转换可以获得卓越的点扩散函数。在理想情况下每单位面积的最高计数速率可以与持续增加的波束线亮度相匹配。

2、核心优势：

- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力

- 千赫帧速率占空比> 99%

- 75μm像素尺寸的高空间分辨率

- 优秀的点扩散函数

- 无读出噪声和暗电流

- 极其紧凑的外壳

3、应用领域：

-X射线光子相关光谱(XPCS)

- Ptychography(叠层衍射)成像技术

- 时间分辨实验

- 大分子晶体学(MX)

- 单晶衍射(SCD)

- 粉末衍射(PD)

- 表面衍射

- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)

- X射线成像

型号	EIGER2 X 500K	EIGER2 X 1M	EIGER2 X 4M	EIGER2 X 9M	EIGER2 X 16M	EIGER2 XE 9M	EIGER2 XE 16M
有效面积：宽x高 [mm²]	77.1 x 38.4	77.1 X 79.7	155.1 x 162.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2
像素大小 [μm²]	75 x 75
总像素数量	1028x512	1028x1062	2068 x 2162	3108 x 3262	4148X4362	3108 x 3262	4148X4362
间隙宽度, 水平/垂直（像素）	-/-	-/38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38
最大帧频* [Hz]	2000	2000	500	230	130	550	550
计数器深度 [ bit ]	32	32	32	32	32	32	32
读出时间	连续读数
点扩散函数	1 pixel
传感器材料	Si
传感器厚度 [μm]	450
能量范围 [keV]	6-40
最大计数率 [ph/s/pixel]	10⁷
尺寸（WHD）[mm³]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 242	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.7	4.7	15	41	55	41	55
冷却方式	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）

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