EIGER2 X/XE CdTe探测器是为在高能量段需要高分辨率和高帧速率的科学家设计的。单个像素尺寸仅为75µm，且对能量到达100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死时间为零，所以每帧之间不会丢失光子。两个可调的能量阈值可以同时区分荧光背景（低能阈值）并且测量高次谐波的影响（高能阈值）。计数速率高达10⁷光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探测器性能优异且易于集成和操作。

2、核心优势：

– 高量子效率范围达100KeV

– 无图像延迟或余辉

– 计数速率高达10⁷光子/秒/像素

– 双能量阈值

– 电子门控触发

– 有效面积大

3、应用领域：

– x射线衍射(单晶和粉末)

– 现场和原位技术

– 衍射显微镜和层析成像

– 漫散射和对分布函数

技术参数：

型号	EIGER2 X CdTe 500K	EIGER2 X CdTe 1M	EIGER2 X CdTe 4M	EIGER2 X CdTe 9M	EIGER2 X CdTe 16M	EIGER2 XE CdTe 9M	EIGER2 XE CdTe 16M
有效面积：宽x高 [mm²]	77.1 x 38.4	77.1 X 79.7	155.1 x 162.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2	233.1 x 244.7	311.1 x 327.2
像素大小 [μm²]	75 x 75
总像素数量	1028x512	1028x1062	2068 x 2162	3108 x 3262	4148 x 4362	3108 x 3262	4148 x 4362
间隙宽度, 水平/垂直（像素）	-/-	-/38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38	12 / 38
帧频* [Hz]	2000	2000	500	230	130	550	550
计数器深度 [ bit ]	32	32	32	32	32	32	32
读出时间	连续读数
点扩散函数	1 pixel
传感器材料	CdTe
传感器厚度 [μm]	750
能量范围 [keV]	8-100
计数率 [ph/s/pixel]	10⁷
尺寸（WHD）[mm³]	114 x 92 x 242	114 x 133 x 242	235 x 237 x 372	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500	340 x 370 x 500	400 x 430 x 500
重量 [kg]	3.7	4.7	15	41	55	41	55
冷却方式	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）	水冷（模块）/风冷（电子学）

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单位

行业

采购日期

中国科学院上海应用物理研究所

仪器仪表

2021-11-02

客服中心

瑞士DECTRIS混合像素光子计数X射线探测器EIGER2 X/XE CdTe