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Tecnai
FEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用成像和分析解决方案。
Tecnai G2 系列将现代技术与科学界极富创新能力且严格的要求完美结合起来,而且该产品系列中包括将近 20 款型号。
更多信息,您可访问:http://www.fei.com/products/
Tecnai™ 透射电子显微镜,Tecnai G2 系列
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JJG(教委) 12-1992 透射电子显微镜检定规程
JY/T 011-1996 透射电子显微镜方法通则
JJG(地质) 1016-1990 透射电子显微镜检定规程
JB/T 5383-1991 透射电子显微镜技术条件
JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法
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GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
JY/T 0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
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