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【简单介绍】
Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
【详细说明】
Surfix N外置探头非铁基统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点:
l 德国PHYNIX公司制造
l 碳化钨超耐磨测头,快反应速度
l 同屏显示统计数据
l 可存储前200测值
l 可测有色金属涂镀层
l 基体上涂层,量程1500μm
l 精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l 有红外可接PC及打印机
技术参数:
测量范围
0-1500µm,0 - 60mils
误差
±(1µm+1%读数)
分辨率
0.1µm或小于读数的2%
显示
背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示
基体小面积
5mmX5mm
基体小曲率
凸面:1.5mm 凹面:5mm
基体小厚度
F型:0.2mm ,N型: 50µm
校准
厂家校准,零校准,校准箔校准
数据统计(仅限统计型)
读数个数(多9999个),平均值,标准偏差,大值和小值
数据存储(仅限统计型)
多200个测量数值,可单独调出
数据值(仅限统计型)
上下限可调,声音报警
数据接口
红外通讯,IrDA标准
环境温度/表面温度
0-50℃/60℃(可选配150℃)
电源
两节1.5伏五号碱性电池
仪器尺寸
137x66x23mm
符合标准
DIN,ISO,ASTM,BS
Surfix N非铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计,Surfix N非铁基统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计
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