QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等.
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平产品特点：
阻抗型、耗散型石英晶体微天平
判断薄膜的刚性与柔性，测量耗散，分析膜的粘度、弹性等性质
吸附、成膜等过程中的微小质量变化（可低至纳克级），分析其厚度、质量等
实时追踪反应过程中的分子排列、结构变化......
在QCM测试的同时，可以同步进行电化学扫描
液相中标准耗散因子精度： 1 x 10-7（1E-7）
液相中的质量灵敏度：<1 ng/ cm2
双通道，带温度控制，流通型QCM池，可扩展至四通道
同时监测频率和耗散
频率范围：1-80MHz（对于5MHz可做到13倍频）
温度控制范围：4°C - 80°C (± 0.02 °C)
可选配电化学测试模块
最多可配置为4通道（标准配置为双通道）
USB连接方式
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平仪器参数：
兼容直径为1英寸和14mm的两种不同尺寸的石英晶片；提供金、ITO导电玻璃等覆盖多种材料薄膜的石英晶片。
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平适用领域：
生物传感器、化学传感器、电池、腐蚀等领域，包括：
聚合物膜、纳米粒子薄膜
Li+ 嵌入（锂电或电容器）
材料表面腐蚀研究
电沉积
自组装单层
抗原-抗体相互作用
表面活性剂吸附
蛋白质吸附
离子和溶剂运输
......
控制软件 —— Biosense
Biosense软件可同时控制石英晶体微天平和Gamry恒电位仪的运行及数据获取。
测试曲线：
测量共振频率及共振电导曲线的半峰宽（FWHM），最高频率可达80MHz
连续进行频率测试的同时，监控温度随时间的变化
数据分析:
用户可以使用标准或自定义模型，计算相关QCM参数及吸附层参数
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平仪器包含:
QCM Unit with two temperature controlled channels
PC Computer INTEL NUC with Windows® 10 Pro
QCM Sensor Holder (flow through type) 2 pc
BioSense 3.xx Software (one user license)
Sample Injection System with Semi-automatic injection valve
QCM-I 耗散型石英晶体微天平是基于对石英晶片进行阻抗分析基础上的高度灵敏的质量传感器，能够测量石英晶片或所吸附薄膜的频率变化及能量耗散，进而分析反应过程中微小的质量变化，吸附层厚度变化等；能够判断膜的刚性或柔性，并且分析膜的粘弹性方面的性质；以及实时追踪分子排列、结构变化等。仪器提供单通道、多通道多种配置；可以单独使用，也可与电化学工作站同步联用。
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平, QCM-I
QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平信息由刚瑞（上海）商务信息咨询有限公司为您提供，如您想了解更多关于QCM-I 高精度耗散型石英晶体微天平报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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