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1.产品特点
·利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度;
·利用掠射实验来对薄膜进行相分析;
·用配备数字显示的千分尺来控制样本的位置校准;
·能够手动调节样品架的倾斜度。
2.适用仪器
STADI P、STADI MP
德国STOE 粉晶衍射仪配件_反射模式样品II, 反射模式样品II
德国STOE 粉晶衍射仪配件_反射模式样品II信息由北京优纳珂科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于德国STOE 粉晶衍射仪配件_反射模式样品II报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
德国STOE X射线单晶衍射仪_STADIVARI
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