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原理:用超越激光衍射极限的系统来研究样品
NTEGRA Spectra 在检测样品时,通过扫描近场光学显微术能提供超越激光光学衍射的光学分辨率。支持两种不同的SNOM方式:光纤式SNOM和悬臂梁式SNOM所有的SNOM功能模式:透射模式,反射模式,收集模式。
所有SNOM的信号都可以被检测:激光强度,荧光强度,光谱信号等。
SNOM刻蚀:矢量式,光栅式。
NTEGRA Spectra 采用开放式光路设计,使其能够与多种光学仪器进行联用。应用领域包括微区化学成分分析、力学性能、介电性质和光学的反射、透射、传播性能的、碳基化合物、生物材料、半导体等,联用测量的空间研究等等。能够分析各种来源的复杂样品,包括聚合物分辨率已经接近纳米尺度。
技术参数
扫描方式
样品扫描
针尖扫描
样品尺寸
最大直径40mm
最大高度15mm
最大直径100mm
样品重量
最大100g
最大300g
XY样品定位
5×5mm
定位精度
分辨率:5μm 灵敏度:2μm
扫描范围
100×100×10μm
3×3×2.6μm
50×50×5μm
最大200×200×20μm (DualScanTM模式)
非线性度,XY
(带有闭环传感器)
=0.1%
=0.15%
Z方向噪音水平(1000Hz带宽时的RMS)
带有传感器
0.04nm(典型值)
=0.06nm
0.06nm(典型值)
=0.07nm
不带传感器
0.03nm
0.05nm
XY方向噪音水平(200Hz带宽时的RMS)
0.2nm(典型值)
=0.3nm(XY 100μm)
0.1nm(典型值)
=0.2nm(XY 50μm)
0.02nm(XY 100μm)
=0.001nm(XY 3μm)
0.01nm (XY 50μm)
线性度评价误差(带有传感器)
±0.5%
±1.2%
光学观察系统
光学分辨率
1μm
3μm
视野
4.5-0.4mm
2.0-0.4mm
连续变焦
是
NT-MDT近场光学显微镜SNOM,Ntegra SNOM
NT-MDT近场光学显微镜SNOM信息由八帆仪器设备(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于NT-MDT近场光学显微镜SNOM报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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