偏振相关损耗测量仪PDL-201

特点：

30 ms的测量速度                                                                   

较宽的波长范围                                                                       

PDL测量精度高                                                                       

PDL模拟输出 

高亮的OLED屏

应用：

PDL与波长测量

DWDM器件特性测试

光纤传感元件特性测试

       采用专利最大最小搜索技术，通用光电公司的PDL测量仪能在30 ms内，同时测量待测器件的偏振相关损耗（PDL），插入损耗（IL）和光功率。使用扰偏法测量的PDL具有很高的不确定性。与这种方法不同，PolaCHEXTM有条理地搜索最大和最小透过率，确保了具有较高和较低PDL值的器件在任何时刻的测量精度。因此可获得最精确的PDL值。PolaCHEX覆盖了较宽的波长范围：1260~1650 nm，无需波长校准，比基于Mueller矩阵方法测得的PDL值更准确。带有USB、以太网、GPIB和RS-232接口，用于电脑控制。能快速、精确测量与波长相关的无源器件的特性，尤其适用于制造或实验室中DWDM、光纤传感元件。与PDL-101相比，PDL-201具有较快的测量速度，较大的测量动态范围，更明亮的显示屏，以及用于集成的附加模拟输出端口。

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