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仪器简介:
快速划痕测试仪REVETEST Xpress (1N - 200N) 快速划痕仪REVETEST Xpress为企业质量监控提供了一种低成本的理想检测手段。 该仪器拥有非常友好的用户使用界面,可以用于膜基结合强度、薄膜抗划擦能力以及传统方法的硬度测量(显微镜观测)。 REVETEST Xpress的简约化设计为您的质量检测和产品开发部门提供了一种高效、可靠的手段。用户可以通过与仪器配套的软件自行定义测量参数,然后将这些自定义的测量参数导入一张USB盘中。您只需将此USB盘放入仪器内置的USB标准接口,然后按下“开始”键来启动您自定义的测试即可。测试结束后,用户可以选择直接在仪器上(如果仪器配套了光学显微镜选件)或使用用户实验室的其它光学显微镜分析实验数据和划痕形貌。
主要特点:
特点 金刚石针尖划痕 闭环力学反馈控制 符合国际标准ASTM、C1624和EN 1071 选件 升级到Xpress Plus 升级到标准配置的大载荷划痕仪Revetest CCD光学显微镜与显示器 声发射传感器 深度传感器 多种划痕针头几何形状配置
Xpress型划痕测试仪,RSX
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