大塚电子量子效率测量系统QE-2000(大塚电子)

量子效率测量系统QE-2000

产品特点：

*瞬间测得绝对量子效率（绝对量子产额）

*可去除激发荧光光谱

*积分半球系统，实现高亮度测量（专利技术）

*低杂光多频分光检出器，大幅度减少紫外域杂光

*专用软件，操作简便

*试料固定治具容易安装和拆卸

*紧凑结构，占用空间少

*任意测试波长可选

*设定步进值，可自动测量

*可测量粉剂、溶液、固体、薄膜

*丰富的解析功能

——量子效率（量子产额）

——测量激发波长依赖性

——测量发光光谱

——测量PL激发光谱

——测量EEM（Excitation Emission Matrix）

应用领域：

*用于测量LED、有机EL用荧光体的量子效率（量子产额）

*用于测量薄膜形状样品的透射荧光、反射荧光的量子效率（远程荧光粉用荧光体样品等）

*测量量子点、荧光探针、生物领域、有机化合物的荧光

*测量色素敏化太阳能电池的量子效率（量子产额）

*用于测量络化化合物

大塚电子量子效率测量系统QE-2000, QE-2000

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