比表面及孔径孔隙度分析仪 BSD-PM1

产品简介：

BSD-PM1高性能比表面及孔径分析仪属于研究级仪器，可测试材料的比表面积、总孔容、孔径分布和吸附脱附数据，尤其可对微孔材料的孔径分布给出更准确测试结果，可升级为双站微孔测试功能，适用于对研发、实验要求极高的科研单位和企业用户。集装阀门和管路设计，模块化组装，保证仪器高真空度和高密封性，是高性能和高稳定性的典型产品。

  产品特点:

         ◆   2个样品预处理脱气站，1个样品分析站,1个P0测试位，2路独立冷阱;

            (专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的净化预处理装置.专利号：ZL201120136943. 9)

         ◆  脱气系统和分析系统实现完全独立运行，互不干扰;

         ◆  全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示;

         ◆  BEST多路歧管模块，英福康检漏仪出厂检测，保证仪器真空度和稳定性;

         ◆  独立的高精度饱和蒸汽压（P0）实时测试站;

            (专利名称：静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸汽压测试装置.专利号：ZL201120136959.X)

         ◆  饱和蒸气压螺旋P0管：采用螺旋状的P0管作为饱和蒸汽压管，与仪器主机连接，能够更快的达到液氮温度，是的测试的饱和蒸汽压更接近真实值(与进口等温夹的效果一样，解决了直形不锈钢P0管测试结果偏大2%的问题)，提高测试精度。

            (专利名称：饱和蒸气压螺旋P0管及静态法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201620716311.2） 

         ◆  双冷阱保护真空系统和分子泵;

            (专利名称:具有除尘防污染装置的静态容量法比表面及孔径分析仪.专利号:201320045881.X)

         ◆   贝士德独创的脱气位滤尘袋，彻底消除对仪器内部结构的污染

         结合贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，能够在不降低现有气体流导前提下实现粉尘过滤功能，彻底杜绝粉末样品对仪器内部结构的污染，抽真空脱气时间缩短、效果提高。

            (专利名称：具有脱气位滤尘袋装置的静态法物理吸附仪.专利号：ZL201620714986.3)   

         ◆  脱气处理：2.4.8个预处理站可选，采用全自动程序控制，定时开始、真空泵自动启停、程序升温、定时结束，可实现无人值守测试和样品脱气处理。

         ◆  智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气;

         ◆  自动加盖：仪器必须具有液氮杯自动加盖功能，能够有效的减少液氮的挥发，同时也可避免水蒸气在杜瓦杯口和样品管上冷凝结冰?；

            (专利名称：加盖装置及静态法比表面及孔径分析仪.专利号：ZL201420148358.40)

         ◆  详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯;

         ◆  超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行;

         ◆   液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险;

         ◆  智能双模式投气量控制，在保证实验精度的前提下提高实验效率;

         ◆  4路独立进气，可支持CO2，Ar等其他气体吸附;

         ◆  大容量小口径杜瓦瓶保温时长大于140小时，连续测试96小时无需添加液氮；

         ◆   多项专利技术保障仪器稳定性和准确性;

         ◆  双站微孔测试功能可选配;

         ◆  多组分竞争吸附IAST理论模型：该理论模型可根据纯组分的吸附等温线，模拟计算得到混合组分竞争吸附等温线，用于多组分竞争吸附的理论预测；

  测试理论：

         ◆  吸附、脱附等温线；

         ◆  BET单点法，多点法比表面  朗格缪尔（Langmuir）比表面;

         ◆  统计吸附层厚度法外比表面（STSA）粒度估算报告和真密度；

         ◆  BJH法吸脱附孔容孔径分布；

         ◆  MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布；

         ◆  t-plot法微孔分析；

         ◆   MP法(Brunauer) 微孔分析；

         ◆  D-R法微孔分析；

         ◆  HK法微孔分析；

         ◆  DFT法微孔分析；

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