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仪器简介:三维轮廓仪NanoMap-LS 三维轮廓仪NanoMap-LS 拥有超大的扫描范围,仅需按下一个按钮即可产生高分辨率的三维和二维图像 。 三维轮廓仪NanoMap-LS 特点 常规的接触式轮廓仪和扫描探针显微镜技术的完美结合 自动样品台扫描,保证样品精确而快速的扫描测试。使用高级别光学参考平台能使长程扫描范围到 100mm。 在扫描过程中结合彩色光学照相机可对样品直接观察 。 软件设置恒定微力接触 简单的2步关键操作,友好的软件操作界面
三维轮廓仪的应用 三维表面形貌/轮廓仪主要应用在金属材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各种材料表面的薄膜厚度,台阶高度,二维粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三维粗糙度(Sa,Sq,Smax),划痕截面面积,划痕体积,磨损面积,磨损体积,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量。摆脱了以往只能得到二维信息,或三维信息过于粗糙的现状。将轮廓仪带入了另一个高精度测量的新时代。三维表面轮廓测量和粗糙度测量,即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。 薄膜和厚膜的台阶高度测量 划痕形貌,磨损深度、宽度和体积定量测量 空间分析和表面纹理表征 平面度和曲率测量 二维薄膜应力测量 微电子表面分析和MEMS表征 表面质量和缺陷检测 电脑 Pentium IV, USB2.0联接 操作系统 Win XP 系统动力需求 90-240V,350W
探针轮廓仪, NanoMap-LS
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