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典型应用
各种器件的I-V功能测试和特征分析,包括:
分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻(MOV)、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管(BJT)场效应晶体管(FET),等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI) – 模拟IC
– 射频集成电路(RFIC)
– 专用集成电路(ASIC)
– 片上系统(SOC)器件
光电器件,例如发光二极管(LED)、激光二极管高亮度LED(HBLED)、垂直腔面发射激光器 (VCSEL)、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
更多…
一、 通用设置 1. NPLC 2. 接线方式(2、4线制) 3. 自动调零4. 滤波
二、 单阶恒流输出测量(BiasIMeasureV-Single)
三、 单阶恒压输出测量(BiasVMeasureI-Single)
四、 多阶恒流输出测量(BiasIMeasureV-Steps)
五、 多阶恒压输出测量(BiasVMeasureI-Steps)
六、 分段电流扫描(SweepIMeasureV-Section)
七、 分段电压扫描(SweepVMeasureI-Section)
八、 连续电流扫描测量(SweepIMeasureV-Continuity)
九、 连续电压扫描测量(SweepVMeasureI-Continuity)
十、 双通道电流同步扫描(Dual-SweepIMeasureV)
十一、 双通道电压同步扫描(Dual-SweepVMeasureI)
十二、 波形输出-正弦波(Wave-Sine)
十三、 波形输出-方波(Wave-Square)
十四、 电化学-循环伏安(Cyclic voltammetry)测量
十五、 电化学-多电流跃阶测量(Multi-Current Steps)
十六、 电化学-多电位跃阶测量(Multi-Potenital Steps)
十七、 太阳能电池IV特性测量(Solar Cell IV)
十八、 双通道恒流恒压测量(Dual Channel IV)-
十九、 直流FET-转移曲线测量(DC-FET-Transfer)
二十、 直流FET-输出曲线测量(DC-FET-Output)
二十一、 脉冲FET-转移曲线测量(Pulse-FET-Transfer)
二十二、 脉冲FET-输出曲线测量(Pulse-FET-Output)
二十三、 直流FET栅极方波曲线测量(DC- FET- Gate- Square Wave)
二十四、 流FET漏极方波曲线测量(DC- FET- Drain- Square Wave)
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