您好,欢迎您查看分析测试百科网,请问有什么帮助您的?
如果企业客服不在线,也可拨打400电话联系。或者发布求购信息
SM303 TE薄背式CCD 光谱仪
科研级高性能
极低的暗噪声和杂散光
宽的动态范围和高的信噪比
高紫外量子效率
灵活的光纤输入直接到狭缝或通过光纤
广泛的应用设计
高速数据采集
标准设计允许最多200-1050nm范围
应用:
光谱产品将提供新的SM303 TE致冷薄型背照式1024像素的CCD阵列光谱仪。
SM303是理想的UV / VIS/ NIR光谱法,需要非常高的信噪比和/或高动态范围,像荧光,拉马,LED特性测试的应用程序。的薄型背照式CCD具有在紫外线极好的灵敏度并允许深UV应用。精心设计的外壳使为从200纳米到1050nm(较小的测量窗口尺寸增加光谱分辨率和光敏感)具有非常低的杂散光850nm的测量窗口。的TE制冷detecor也有助于通过减少在长积分时间的噪声电平来测量非常低的光信号。
高动态范围和低噪音的SM303也是理想的辐射测量应用选择。
标准接口SM303-Si是16位在USB 1.1/2.0兼容接口。软件支持包括SDK和DLL的专用应用程序的开发,我们的SM32Pro基于Windows的光谱采集和分析软件。
软件:
SM32Pro - 视窗95,2000,XP,7的软件(支持32位和64位)进行数据采集和分析透射率,反射率,和吸光度测量
数据导出,放大和缩小,频谱覆盖,还有更多的功能
包括彩色分析工具
信号平均和积分时间控制
可在DOS和Windows用户方便的软件开发DLL库
用VC+ + / VB/ Labview的例子
TE薄背式CCD 光谱仪, SM303
TE薄背式CCD 光谱仪信息由瞬渺科技(香港)有限公司为您提供,如您想了解更多关于TE薄背式CCD 光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
T/ZZB 0673-2018 直读光谱仪
GSO IEC 61976:2014 核测量设备和仪器 光谱仪 HPGe伽马射线光谱仪中光谱背景特征的表征
T/QGCML 1522-2023 FLA微型光纤光谱仪
DL/T 1062-2020 光电式CCD引张线仪
T/CAIA YQ003-2016 光谱仪器用线阵CCD光电性能 通用测试方法
DL/T 1062-2007 光电式(CCD)引张线仪
DL/T 1061-2020 光电式CCD垂线坐标仪
DL/T 1086-2022 光电式CCD静力水准仪
DL/T 1061-2007 光电式(CCD)垂线坐标仪
DL/T 1086-2008 光电式(CCD)静力水准仪
DL 1061-2020 光电式CCD垂线坐标仪
KS C 6918-2020 光纤光谱分析仪测试方法
BH GSO IEC 61976:2016 核仪器 光谱测定 HPGe 伽马射线光谱测定中光谱背景的表征
DL/T 1273-2013 光电式(CCD)双金属管标仪
OS GSO IEC 61976:2014 核仪器 光谱测定 HPGe 伽马射线光谱测定中光谱背景的表征
GB/T 21191-2007 原子荧光光谱仪
GJB 743A-2019 军用光学仪器术语、符号
JB/T 5590-1991 光谱仪器用滤光片
JJG 768-2005 发射光谱仪
CNS 14341-1999 光谱分析仪
“全国科技工作者日”关怀科技工作者睡眠健康公益讲座
化学药物质量控制与分析方法
质谱技术与肿瘤诊疗
基于环境ICP-MS新标准HJ1315-2023环境土壤的前处理方案和分析测试经验分享
中红外光谱仪
Copyright ©2007 ANTPedia, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号