美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)(TSI)

产品详情

TSI  的扫描电迁移率粒径谱仪广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（  NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm  的标准尺寸的参考材料。扫描电迁移率粒径谱仪是一个精确地粒径检测技术，没有假设颗粒的形状粒度分布而直接测量数浓度。该方法是独立的颗粒或流体的折射率，并具有高度的绝对尺寸精度和测量重复性。  TSI 模型 3938  是粒径谱仪的第三代；可信的研究人员超过 30 年。 

特点和优点   

高分辨率数据：多达 167  个通道 

广泛的尺寸范围：从 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速测量：＜ 10  秒扫描 

宽的浓度范围内， 10⁷  particles/cm³ 

最大的灵活性组件的设计 

无需电脑的操作， 触摸屏控制 

易于安装与不安装工具和自动发现部件 

离散粒子测量：适用于多模样本 

独立的颗粒和流体的光学性质 

宽范围的系统的选择：水或丁醇计数器供选择；传统的或非放射性中和器的选择 

应用   

纳米技术研究和材料的合成 

大气研究和环境监测 

燃烧和发动机排气的研究 

室内空气质量的测量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理学研究 

内容包括   

静电分类器与您选择的 DMA  柱 

可兼容六种 CPC   

气溶胶仪器 ®  软件经理 

数据采集计算机必须单独购买。 

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938), SMPS-3938

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)信息由美国TSI集团中国公司为您提供，如您想了解更多关于美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。