Explorer Pro分析系列密度测定天平在同类中已成为市场领先者。Explorer Pro采用紧凑设计,可在几秒钟内提供精确结果从而提高操作者效率、生产率和吞吐量,稳定所需时间比基础型号的天平少50%。
Explorer Pro出众的抗振动系统使其成为不稳定工作条件下的理想选择。Explorer配有无框架防静电翻盖玻璃防风罩,可畅通无阻地进入工作腔室。通过彩色VGA大屏显示器上的图标给出的简单提示便于浏览菜单,电阻式触摸屏显示器可快速响应操作者的触摸或手写笔。Explorer Pro也包含四点非接触式传感器,可完全解放双手,内部校准程序可确保称重精度(可达0.1 mg)不受环境室温的影响。