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产品简介PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受环境光的影响测量简单,样品无需特殊处理Z方向,测量范围大:为27mm主要技术参数扫描范围:50×50(mm)扫描步长:0.1μm扫描速度:20mm/sZ方向测量范围:27mmZ方向测量分辨率:2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。
PS50型三维表面形貌仪,PS50
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