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产品名称
CM100膜厚仪
主要特点
1.操作简单,使用方便
2.测量快速、准确
3.体积小、重量轻,便携式
4.高性价比无损测量
技术参数
1. 光谱范围:370-1000nm
2. 光谱分辨率:1.6nm
3. 测量光斑:典型1.5mm
4. 最大样片厚度测量范围:15nm- 100μm
5. 膜厚测量重复性:0.1nm
6. 测量膜层数目:4层
7. 准确度:2nm或0.4%
8. 单次测量时间:典型1-2秒
CM100膜厚仪, CM100
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