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冠测DTA差热分析仪(氧化诱导期分析仪)
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DTA差热分析仪(氧化诱导期分析仪)
一、差热分析仪功能和用途:
DTA:差热分析是在程序控制温度下,测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。在DTA试验中,样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如:相转变,熔化,结晶结构的转变,沸腾,升华,蒸发,脱氢反应,断裂或分解反应,氧化或还原反应,晶格结构的破坏和其他化学反应。
二、差热分析仪技术指标:
DTA
GCDZ3320A
温度范围
室温~1150℃
量程范围
0~±2000μV
DTA精度
±0.1μV
升温速率
1~60℃/min
温度分辨率
0.1℃
温度准确度
±0.1℃
温度重复性
温度控制
升温:程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温:风冷 程序控制 可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温:程序控制 恒温时间任意设定
炉体结构
炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作
气氛控制
气体流量计,气氛转换装置
数据接口
RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
主机显示
汉字大屏液晶显示 蓝底白字
参数标准
配有标准物:用户可自行对温度进行校正
基线调整 :用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
工作电源
AC 220V 50Hz
符合标准:
GB/T17391-1998
三、差热分析仪仪器配置 :
1. GCDZ 差热分析仪 一台
2.气体流量计 、 气体转换装置 一台
3.电源线 一根
4.数据线 两根
5.实验软件光盘 一张
6.样品勺 一只
7.镊子 一只
8.气路皮管(安装到位)
9.陶瓷坩锅、铝坩埚 200只
10. 合格证、保修卡、说明书 各一份
11.品牌电脑 一台
12.打印机 一台
冠测DTA差热分析仪(氧化诱导期分析仪),DTA
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