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Amerigo原位纳米粒度和zeta电位分析仪基于最新技术的动态光散射(DLS)和激光多普勒电泳(LDE)技术,可提供高分辨率,准确和快速的粒度和zeta电位测试。
技术优势结合Wallis和Vasco Kin的功能,具有高分辨测量能力非接触远程测量纳米粒度的动力学分析zeta电位的可编程动力学实验(zeta 对 温度/pH/时间)动态时间切片功能,可进行数据后处理可选高浓度Flex探头
规格
测试范围
粒径 : 0.5 nm up to 10 µm
Zeta电位 : 1 nm to 100 µm
样品浓度
0.0001% to 40% w/% (solvent dependent)
Zeta电位范围
-500 mV to +500 mV
温度控制范围
10°C to 70°C; +/-0,1°C (取决于样品池材料)
迁移率范围
10-10 to 10-7 m2/V.s
样品池
水相和有机相光学比色皿
样品体积
20µL- 750 µL
样品类型
水相 & 有机相溶剂; pH: 1-14 (取决于样品池材质)
最大样品电导率
300 mS/cm
光学光纤输出 (选配)
可外接原位粒度测试或者高浓度测试探头
信号处理
测试原理
动态光散射 (DLS)
激光多普勒 (LDE)
激光光源
50 mW diode @635 nm
选配其他波长光源,如绿光等;
测试角度
粒径测试 : 170° (backscattering) and 17°
Zeta 电位: 17°
数据处理算法
Real time correlation (DLS) 快速傅里叶变换 (Zeta)
分辨率 (Zeta)
迁移率 = 10-10 m2/V.s or Zeta = 0,1 mV ( 水相)
检测器
雪崩光电二极管 (APD)
硬件
电脑界面
USB 2.0 – Windows 10 32 & 64 bits
外观大小
33 cm x 33 cm x 38 cm (HWD)
重量
17 kg
电源
100-115/220-240 VAC, 50/60 Hz, 100 W max
系统合规性
CE 认证
CE 认证 – I类激光产品, EN 60825-1:2001, CDRH
ISO 规范
符合ISO 13321 (1996) & ISO 22412 (2008) , CFR 21 part 11 (选配)
ISO 13099-2 : 2012 – 胶体系统 – zeta电位测试方法 – Part 2 :光学方法
Amerigo高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪,Amerigo
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