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高低频介电常数测试仪
GCSTD-D
性能特点
■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进 ■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进 ■ 基本准确度0.1%■ 最高达200次/s的测量速度 ■ 320×240点阵大型图形LCD显示 ■ 五位读数分辨率 ■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗 ■ 10点列表扫描测试功能 ■ 内部自带直流偏置源 ■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能 ■ V、I测试信号电平监视功能 ■ 图形扫描分析功能 ■ 20组内部仪器设定可供储存/读取 ■ 内建比较器,10档分选及计数功能 ■ 多种通讯接口方便用户联机使用 ■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面 ■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
简要介绍
广泛的测量对象
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
技术参数
测试参数
C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率
20 Hz~2MHz,10mHz步进
测试信号电
f≤1MHz
10mV~5V,±(10%+10mV)
平
f>1MHz
10mV~1V,±(20%+10mV)
输出阻抗
10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度
0.1%
L
0.0001 uH ~ 9.9999kH
C
0.0001 pF ~ 9.9999F
R,X,Z,DCR
0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ
显示范围
Y, B, G
0.0001 nS ~ 99.999 S
D
0.0001 ~ 9.9999
Q
0.0001 ~ 99999
θ
-179.99°~ 179.99°
测量速度
快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校准功能
开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准
等效方式
串联方式, 并联方式
量程方式
自动, 保持
显示方式
直读, Δ, Δ%
触发方式
内部, 手动, 外部, 总线
内部直流偏
电压模式
-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进
置源
电流模式(内阻为50Ω)
-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进
比较器功能
10档分选及计数功能
显示器
320×240点阵图形LCD显示
存储器
可保存20组仪器设定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB(选件)
冠测介质损耗及介电常数测定仪, GCSTD-D1
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