介电常数测试仪器GCSTD-D
性能特点
■ 测试频率20Hz~2MHz,10mHz步进
■ 测试电平10mV~5V, 1mV步进
■ 基本准确度0.1%
■ 最高达200次/s的测量速度
■ 320×240点阵大型图形LCD显示
■ 五位读数分辨率
■ 可测量22种阻抗参数组合
■ 四种信号源输出阻抗
■ 10点列表扫描测试功能
■ 内部自带直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 图形扫描分析功能
■ 20组内部仪器设定可供储存/读取
■ 内建比较器,10档分选及计数功能
■ 多种通讯接口方便用户联机使用
■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)
■ 中英文可选操作界面
■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序
介电常数测试仪器GCSTD-D
简要介绍
广泛的测量对象
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性
液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
介电常数测试仪器GCSTD-D
技术参数
测试参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR |
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测试频率 |
| 20 Hz~2MHz,10mHz步进 |
测试信号电 | f≤1MHz | 10mV~5V,±(10%+10mV) |
平 | f>1MHz | 10mV~1V,±(20%+10mV) |
输出阻抗 | 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω |
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基本准确度 | 0.1% |
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| L | 0.0001 uH ~ 9.9999kH |
| C | 0.0001 pF ~ 9.9999F |
| R,X,Z,DCR | 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ |
显示范围 | Y, B, G | 0.0001 nS ~ 99.999 S |
| D | 0.0001 ~ 9.9999 |
| Q | 0.0001 ~ 99999 |
| θ | -179.99°~ 179.99° |
测量速度 | 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s |
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校准功能 | 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准 |
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等效方式 | 串联方式, 并联方式 |
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量程方式 | 自动, 保持 |
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显示方式 | 直读, Δ, Δ% |
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触发方式 | 内部, 手动, 外部, 总线 |
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内部直流偏 | 电压模式 | -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进 |
置源 | 电流模式(内阻为50Ω) | -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 |
比较器功能 | 10档分选及计数功能 |
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显示器 | 320×240点阵图形LCD显示 |
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存储器 | 可保存20组仪器设定值 |
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| USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) |
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| USB HOST(FAT16 and FAT32 support) |
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接口 | LAN(LXI class C support) |
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RS232C |
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HANDLER |
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GPIB(选件) |
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介电常数测试仪器GCSTD-D
1.测试注意事项
a.本仪器应水平安放;
b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;
c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;
d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好,可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;
e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;
f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
介电常数测试仪器GCSTD-D
2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)
A.直接法
a.将被测线圈接在“Lx”接线柱上;
b.选择适当的工作频段和工作频率;
c.先调调谐电容器到谐振点,即Q表读数达zui大,此读数即为被测电感的有效Q值(Qe),若需得到被测电感的真实Q值(QT),则应先测出线圈分布电容C0,然后照下式修正
介电常数测试仪器GCSTD-D
C1是调谐电容器谐振时读数,如谐振时C1的读数很大,C0只占很小比例,则有效Q值(Qe)和真实Q值(QT)差别可以忽略。
当Q值量程选择自动切换时,在调谐时,如遇量程自动转换,应停顿一下,待Q值稳定后,根据读数值变大或变小,确定继续调电容的方向。
介电常数测试仪器GCSTD-D
B.变容法
a.照直读法“a-d”进行,记下谐振时电容读数C1和Q1;
b.调节主调电容数码开关,使Q值二次指示均为Q1的0.707时,记下此时两次电容读数的差数ΔC,
倘要得到精确结果,则线圈的分布电容应加在C1之内,并应使主调电容作多次偏调,然后取其平均读数。
测Q值较高的线圈时,Q值下降到0.707 Q1时,电容偏调很小,读数误差较大,这时可将主电容作较大偏调(10%以内),记下偏调数ΔC和偏调后的Q值读数Q2,这时Q值表达式为:
C. 变频法
a.按直读法“a-d”进行,记下谐振时读数C1和Q1以及频率读数f0;
b.改变信号源的频率使Q值二次指示为Q1的0.707(一次容性失谐,一次感性失谐),记下此时二次频率读数差值Δf,这时回路的真实QT为:
考虑到线圈的分布电容时,线圈的有效Q值为
变频法测量Q值一般表达式为(未考虑分布电容):
介电常数测试仪器GCSTD-D
注:Δf是频率偏调数,Q1为谐振时Q表读数,Q2是偏调后Q表读数。
3.高频线圈电感值的测量
a.将被测线圈接在“Lx”接线柱上,接触要良好;
b.根据线圈大约电感值,按所需选一个合适的频率以保证能谐振;
c.如要得到真实电感数(LT),必须先测得电感分布电容量C0,如分布电容较小的话,在调到谐振点后,记下主调电容C1,然后再将主调电容量调在“C1 C0”值上,这时指示的电感读数,就是所求真实电感读数,也可按以下公式计算求得:
f被测电感小于1μH时,按上法测得电感值还应减去仪器中测试回路本身剩余电感“L0”(ZJD-B L0约26nH,,ZJD-C L0约7nH)。
介电常数测试仪器GCSTD-D
4.高频线圈分布电容C0的测量
A.倍频率法
如线圈的分布电容较大,可用此法作近似测试。
将被测线圈按在“Lx””接线柱上,调调谐电容器到zui大电容数值,调讯号源频率到谐振,令谐振时频率和指示调谐电容分别是f1和C1。然后将讯号源频率调到f2 (f2=n f1),再调电容器度盘到谐振点,此时电容读数为C2,根据下式即可求出分布电容量(测量时微调电容到零)如取n=2,则为:C0=(C1-4C2)/ 3。若取不同C1进行多次测量后取一个平均值,则测试结果将较为准确。
B.自然频率法(此法可获得较准确的结果)
a.将被测线圈接在“Lx”接线柱上;
b.调谐电容器度盘调到zui大电容值C1;
c.调讯号源频率,使回路谐振,该频率为f1;
d.取下被测线圈,换上一个能在调谐电容器调节范围内和十倍于f1频率谐振的电感;
e.讯号源调到10 f1位置,调节调谐电容器到谐振点;
f.将被测线圈接在“Cx”两端,调节调谐电容器达谐振,此时视电容读数是增加还是减小。若增加,则应将振荡器频率调高些,若减小,则频率调低些;
g.再取下被测线圈,调节主调电容达到谐振;
h.重复步骤“f”,“g”直到某一频率,被测线圈接上“Cx”两端和不接上均不改变谐振点,这一频率即为被测线圈的自然谐振频率f2,它的C0数值为:C0=C1 (f1/f2)2
注:测量中所需辅助线圈可由LKI-l电感组提供便利。
介电常数测试仪器GCSTD-D
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压击穿试验仪 | DDJ10KV-150KV | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电阻测定仪 | GEST-121 | 体积电阻率、表面电阻率 | 体积电阻率、表面电阻率 |
3 | 高频介电常数测试仪 | GCSTD-A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率10KHZ-50MHZ |
4 | 高频介电常数测试仪 | GCSTD-B | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20KHZ-160MHZ |
5 | 工频介电常数测试仪 | GCSTD-C | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
6 | 高低频介电常数测试仪 | GCSTD-D | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20HZ-5MHZ |
7 | 耐电弧试验仪 | NDH-A | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏控制 |
8 | 高压漏电起痕试验仪 | NLD-AI | 高压等级测试 | 最高电压6KV |
9 | 耐电痕化指数测定仪 | NLD-B | CTI\PTI | 最高电压600V |
10 | 电线电缆耐电痕试验仪 | NLD-C | 漏电痕迹、电痕化 | 触摸屏 |
11 | 导体电阻率测定仪 | GEST-125 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
12 | 半导体电阻率测定仪 | GEST-123 | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
13 | 炭素材料电阻率测定仪 | GEST-122 | 电阻率 | 触摸屏 |
14 | 石油焦粉末电阻率测定仪 | GEST-124 | 电阻率 | 触摸屏 |
15 | 回路电阻测定仪 | HLD-100A | 回路电阻 | 数字 |
16 | 高温耐压试验仪 | DDJT-10KV-150KV | 高温耐压 | 温度和电压范围可选 |
17 | 电阻温度特性测定仪 | GCWRT-II | 电阻温度特性 | 微机控制 |
18 | 介电温谱特性测定仪 | GCWP-A | 温谱、频谱 | 温度和频率范围可选 |
附表一 LKI-2电感组,ZJD-C选配电感
电感No | 电感量 | 准确度% | Q值≥ | 分布电容约略值 |
10 | 250mH | ±5 | 50 | 15pF |
9 | 25mH | ±5 | 70 | 10pF |
8 | 5mH | ±5 | 100 | 10pF |
7 | 1mH | ±5 | 100 | 14pF |
6 | 250μH | ±5 | 150 | 9pF |
5 | 50μH | ±5 | 150 | 12pF |
4 | 10μH | ±5 | 150 | 7pF |
3 | 2.5μH | ±5 | 150 | 7pF |
2 | 0.5μH | 0.05μH | 200 | 5pF |
1 | 0.1μH | 0.05μH | 100 | 5pF |
配 |
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GCSTD-D
介电常数测试仪器
功能特点:
三种不同温度范围的精确温度控制系统,可以满足不同电介质材料测量时对温度范围和控温精度的不同要求,自带温度校准功能电极夹具系统,让测量温度尽可能与样品实际温度保持一致,另外我们还提供温度高达1000℃的高温炉系统,用于研究电介质材料在高温条件下的介电性能。
简便、安全的全自动控制测量软件,触摸屏操作,集成化设计,让实验更加便捷、快速;
铂金材料电极,高温抗氧化,有效延长电极使用寿命;
国内完善的介电分析软件,可以直接测量介电常数和损耗,阻抗谱Cole-Cole图,压电机电耦合系数,磁导率等相关参数;
符合ASTMD150和 D2149-97国际标准,同时也符合GB/T1409-2006介电常数和介电损耗的推荐方法。
介电常数测试仪器, ASTM D150
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