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1:四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/方阻测试仪/方阻仪/四探针电阻率测定仪 型号:KDK-KDY-1
四探针电阻率/方阻测试仪(以下简称电阻率测试仪)是用来测量半导体材料(主要是硅单晶、锗单晶、硅片)电阻率,以及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的测量仪器。它主要由电气测量部份(简称:主机)、测试架及四探针头组成。 本仪器的特点是主机配置双数字表,在测量电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全程的电流变化,免除了测量电流/测量电阻率的转换,更及时掌控测量电流。主机还提供精度为0.05%的恒流源,使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关,在测量某些箔层材料时,可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生,更好地保护箔膜。小游移四探针头,探针游移率在0.1~0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配HQ-710E数据处理器,测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正,并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的最大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均习庋。给测量带来很大方便。 2、主机技术能数 (1)测量范围: 可测电阻率:0.0001~19000Ω•cm 可测方块电阻:0.001~1900Ω•□ (2)恒流源: 输出电流:DC 0.001~100mA 五档连续可调 量程:0.001~0.01mA 0.01~0.10mA 0.10~1.0mA 1.0~10mA 10~100mA 恒流精度:各档均低于±0.05% (3)直流数字电压表: 测量范围:0~199.99mV 灵敏度:10μV 基本误差:±(0.004%读数+0.01%满度) 输出电源:≥1000ΩM (4)供电电源: AC 220V±10% 50/60 Hz 功率:12W (5)使用环境: 温度:23±2℃ 相对湿度:≤65% 无较强的电场干扰,无强光直接照射 (6)重量、体积: 主机重量:7.5kg 体积:365×380×160(单位:mm 长度×宽度×高度) 备注: 等级测量时(测电阻率),精度<3% 电气测量时(测电阻),精度在0.3%以内 备注: 仪器包括:主机一台;测试架(包括台面)一个;四探针头1个
四探针电阻率测试仪, KDK-KDY-1
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