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产品概述
ATP5105是奥谱天成研制的高性能紫外增强制冷型微型光纤光谱仪,它采用2048×64像素的制冷型线性CCD,CCD采用半导体制冷技术,CCD可工作在设定的恒温环境(最低可达-15ºC),从而大幅降低了传感器的噪声,获得了极佳的信噪比(比同类竞争对手提高了约2倍),而且提高了ATP5105的测量可靠性,测量结果不随环境温度变化。
同时,奥谱天成为ATP5105特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界最佳水平。
ATP5105可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光,通过USB2.0或者UART端口,输出测量所得的光谱数据。
ATP5105只需要一个5V直流电源供电,非常便于集成使用。
特点:
紫外增强高性能背照式CCD
专门针对紫外优化的光路和结构;
探测器:背照式CCD(制冷至-15 oC)
探测器像素:3072
超低噪声CCD信号处理电路
光谱范围: 165-1100 nm
光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)
光路结构:交叉C-T
积分时间:2ms-130s
供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光输入接口:SMA905或自由空间
数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
20针双排可编程外扩接口
典型应用:
拉曼光谱仪
微量、快速分光光度计;
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测;
反射率检测;
紫外、可见和短波近红外
波长检测
探测器
类型
线阵背照式CCD (制冷到 -15ºC)
探测光谱范围
165-1100 nm
有效像素
3072
像元尺寸
600μm×8μm
全量程范围
~200 ke-
灵敏度
6.5 uV/e-
暗噪声
6 e-
光学参数
波长范围
光学分辨率
0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围)
性噪比
>1300:1
动态范围
5000:1
工作温度
-10-40 oC
工作湿度
< 85%RH
光路参数
光学设计
f/4 交叉非对称C-T光路
焦距
40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狭缝宽度
5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制
入射光接口
SMA905光纤接口、自由空间
电气参数
积分时间
1 ms - 130 second
数据输出接口
USB 2.0
ADC位深
18 bit
供电电源
DC 5V±10%
工作电流
<2.3A
存储温度
-20°C to +70°C
操作温度
-10°C to +40°C
物理参数
尺寸
120×80×46 mm3
重量
0.5 kg
Sealing
Anti-sweat
奥谱天成ATP5105紫外增强制冷型光谱仪, ATP5105
奥谱天成ATP5105紫外增强制冷型光谱仪信息由奥谱天成(厦门)光电有限公司为您提供,如您想了解更多关于 奥谱天成ATP5105紫外增强制冷型光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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