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产品概述
ATP5104是奥谱天成针对紫外光谱,特别研制的高性能紫外增强型微型光纤光谱仪,它采用3072像素的紫外增敏线性CCD,可以适应165-1100nm波长范围的测试,CCD检测器曝光时间可以控制在1ms之内,同时,奥谱天成为ATP5104特别定制了超低噪声CCD信号处理电路,其量化噪声小于3 counts,为业界最佳水平,可以帮助您可以获得极高的光谱信噪比。
ATP5104是紫外、可见、近红外光谱应用的理想选择,有不同的狭缝、光栅、反射镜、滤光片可以选择,可以根据您的需求,配置适合不同应用场合的光谱仪,光谱范围从165nm起至1050nm,光谱分辨率可在0.5到4.0nm之间选择,奥谱天成也可为OEM客户提供定制选择。
ATP5104可以接收SMA905接口光纤输入或者自由空间输入的待测光,根据设定的积分时间进行测量,将测量结果通过USB2.0(高速)或者UART输出;
特点:
紫外增强高性能背照式CCD
专门针对紫外优化的光路和结构;
探测器:背照式CCD
探测器像素:3072
超低噪声CCD信号处理电路
光谱范围: 165-1100 nm
光谱分辨率: 0.1-4 nm(取决于光谱范围、狭缝宽度)
光路结构:交叉C-T
积分时间:2ms-130s
供电电源:DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光输入接口:SMA905或自由空间
数据输出接口: USB2.0(High speed)或UART
20针双排可编程外扩接口
典型应用:
拉曼光谱仪
微量、快速分光光度计;
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测;
反射率检测;
紫外、可见和短波近红外
波长检测
探测器
类型
线阵背照式CCD
探测光谱范围
165-1100 nm
有效像素
3072
像元尺寸
600μm×8μm
全量程范围
~200 ke-
灵敏度
6.5 uV/e-
暗噪声
6 e-
光学参数
波长范围
光学分辨率
0.1-4 nm (取决于狭缝、光谱范围)
性噪比
>1000:1
动态范围
3000:1
工作温度
-10-40 oC
工作湿度
< 85%RH
光路参数
光学设计
f/4 交叉非对称C-T光路
焦距
40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狭缝宽度
5、10、25、50、100、150、200 μm 可选,其他尺寸可定制
入射光接口
SMA905光纤接口、自由空间
电气参数
积分时间
1 ms - 130 second
数据输出接口
USB 2.0
ADC位深
18 bit
供电电源
DC 5V±10%
工作电流
<2.3A
存储温度
-20°C to +70°C
操作温度
-10°C to +40°C
物理参数
尺寸
102×720×34 mm3
重量
0.3 kg
Sealing
Anti-sweat
奥谱天成ATP5104紫外增强光纤光谱仪,ATP5104
奥谱天成ATP5104紫外增强光纤光谱仪信息由奥谱天成(厦门)光电有限公司为您提供,如您想了解更多关于奥谱天成ATP5104紫外增强光纤光谱仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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