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奥谱天成_ATP3040_超高分辨率光纤光谱仪
参考价：面议
品牌：奥谱天成 产地：福建 型号：ATP3040 样本：来电或留言获取样本
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参数
| 产地类别：国产 | 供应商性质：生产商 | 探测器类：CCD |
| 光谱范围：可见 | 杂散光：<0.05% at 600 nm; <0.10% | 信噪比： >1300:1 |
| 分辨率：0.01-1nm | 光谱范围：180-1100nm | 动态范围：10000：1 |
| 灵敏度：6.5 uV/e- | 探测器：CCD | 积分时间：1-65535 ms |
产品介绍
描述
ATP3011P系列是奥谱天成最新研制的高分辨率光纤光谱仪，其探测器像素高达4096个，响应范围覆盖UV至NIR波段（180-1100 nm）。光路、电路、信号处理方法均进行了深度优化，从而实现了超高分辨率、超低噪声的性能。
采用TE深度制冷的ATP3011P，进一步提高了信噪比和动态范围。
ATP3011P只需一个5V直流电源供电，数据输出接口有USB2.0或者UART，便于集成使用。
型号 | 探测器像素 | 探测器是否制冷 |
ATP3000 | 2048像素 | 探测器非制冷 |
ATP3040 | 4096像素 | 探测器非制冷 |
特征
探测器像素：4096
超高分辨率：最低至0.01nm
高灵敏度：650V（lx•s）
响应范围：180 - 1100 nm
探测器制冷温度：0 ℃
最大读出速率：10 MHz max
光路结构：交叉C-T
积分时间：1-65535 ms
供电电源：DC 5V±10% @<2A
光输入接口：SMA905或自由空间
数据输出接口：USB2.0(High speed)或UART
应用
微量、快速分光光度计
光谱分析/辐射分光分析/分光光度分析
透过率、吸光度检测
反射率检测
波长检测（紫外、可见和短波近红外）
椭偏仪
性能参数
图1ATP3010P的噪声性能
图2ATP3011P（制冷型）的噪声性能
电气接口
奥谱天成_ATP3040_超高分辨率光纤光谱仪信息由奥谱天成（厦门）光电股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于奥谱天成_ATP3040_超高分辨率光纤光谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。
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