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SR750 超高分辨率光谱仪
结合创新型的光学器件设计,SR-750 配合Andor 公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD,可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750 可以配用多种附件,拓展应用领域,在透射/ 反射/ 吸收光谱、Raman 光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中,提供最佳的系统解决方案。
SR750 超高分辨率光谱仪主要特点:
? 分辨率最高可达0.02nm
? 多路光谱优化光路,低串扰,高密度多路光谱探测
? 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息,便于以后光栅升级
? 双探测器出口选项,可安装不同类型探测器满足不同实验需求
? 多样化的附件选择
? 支持单点探测器,波长最大可达12μm
? 光学元件镀银选项,保证红外探测器更好的性能
SR750 超高分辨率光谱仪技术参数指标:
SR750 超高分辨率光谱仪配置选项:
附件选项:
光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚
超高分辨率光谱仪SR750,SR750
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