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仪器简介:
HRD 3000衍射计在分析领域中有很广泛的应用,从纺织品质地到薄膜分析、张力测定和反射计等。 在测定层厚度和分析半导体组分的时候,借助高性能、高分辨率的衍射仪,您可以很轻松地获得很好的结果。 高分辨率的反射计研究中可以借助HRD 3000来确定层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度。
技术参数:
用途:应用SHD 3000 高分辨率X-射线衍射仪来确定物质的层厚度、密度、表面和接触面的粗糙程度 3) 应用 纺织业 薄膜分析 应变测量 半导体中的反射、层厚度、组分、密度、表面和接触面的粗糙程度
主要特点:
有原位微处理器的超高稳定性的X射线发生器,微处理器可通过电脑串行接口控制 高亮玻璃和陶瓷的X-射线管,在直线和点的焦点位置快速旋转 X-Y和旋转台的电子管屏蔽 应用Max-FluxTM 光学系统的平行光束光路 Eulerian cradle可以使样品片刻就排列在一起 通过带有光学编码器的步进电动机进行精确定位的高精度,高速度的测角仪 所有电机具有七级自由度 大尺寸X-Y-Z(X,Y,Z可调节,X,Y为150mm,Z为25mm)机械样品支架可以测量200mm的样品圆片或者其他类型的样品 用于Cr、Fe、Co、Cu 和Mo辐射的二级单色器 花岗岩工作台为测角仪提供了高的机械稳定性 降低背景值或提高强度的使用填充氙气的比例、闪烁计数器、固体状态、线性和弯曲位敏检测器(PSD) 使用Microsoft Windows 2000/NT/ME 或 XP 操作系统,在32位环境下进行数据处理和仪器控
高分辨率X射线衍射仪, SHD 3000
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