X射线扫描电镜能谱仪(EDS)

Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。

Octane SDD探测器型号
Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。

• Octane Pro — 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。

• Octane Plus — 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。

• Octane Super — 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。

• Octane Ultra — 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。

特点和好处

先进的内置FET谱仪设计

• Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率

• 所有计数率下保证数据质量

• 在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析

最先进的脉冲处理器

• 最高的输入计数到存储数据转换效率。
  

• 以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。

• TEAM™智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据

• 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。

• 智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。

结论
Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料

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