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膜厚测试仪
椭偏仪
应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。
根据应用不同,我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪,每一款产品各具不同的特点。
PHL紧凑型桌面式椭偏仪 SE-101
型号
SE-101
重复性
厚度0.1nm,折射率0.001
测量速度
0.05秒/测量点
光源
636nm 半导体激光器
测量点
1mm
入射角
70度
测量尺寸
4英寸,
仪器尺寸和重量
250x175x218.3mm/4kg
数据接口
千兆以太网(摄像机信号),RS-232C
功率
AC100-240V(50/60Hz)
软件
SE-View
凑型桌面式椭偏仪 SE-102
SE-102
4英寸,1轴自动,2轴手动
300x235x218.3mm/4kg
快速映射椭偏仪 ME-110
ME-110
每分钟1000个点以上
0.5mm
6英寸
650x650x1740mm/120kg
0.0055-0.5mm
允许厚度分布的测量,例如,透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板
ME-110-T
高速,高解析度的表面分布测量
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101,SE-101、102、110
PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101信息由北京欧屹科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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