太阳能硅片厚度仪采用机械接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测量头自动降落于试样之上,在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。
该设备满足多项国家和国际标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
技术参数:
测试范围 :0~2 mm(常规)、0~6 mm、12 mm(可选)
分 辨 率 :0.1 μm
测量速度 :10 次/min (可调)
测试压力 :17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积 :50mm2(薄膜);200mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距 :0~1000 mm
进样速度 :0.1~99.9 mm/s
电源 :AC 220V 50Hz
外形尺寸 :461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)
净重 :32 kg
太阳能硅片厚度仪微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制,测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
赛成科技推出一系列先进的检测仪器为大专院校,科研机构,食药检验所,企事业单位提供了近万台检测设备。
赛成仪器是一家专业从事实验室检测仪器研发、制造、销售的高新技术企业,数十年来,赛成仪器始终秉承:新技术、新理念。
太阳能硅片厚度仪, CHY-CA 赛成仪器searching
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