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ZSX Primus IV波长色散型X射线荧光光谱仪
ZSX Primus IV 采用上照射设计,不用担心污染光路,清理麻烦和增加清理时间等问题。
具有双真空系统,自动真空控制,mapping/微区分析,超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等特点。
ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管,保证轻元素分析灵敏度。先进的mapping分析可以检测同质性和夹杂物。
特点:
分析范围: Be - Cm
较小的占地面积
微区分析
上照设计
30 μm超薄窗
Mapping: 元素分布
He 密封:样品室一直在真空环境中
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