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发布时间:2023年04月
偏光(污渍、薄膜不均匀性)
坡度(划痕、表面形貌)
反射率(内应力、条纹)
暗场(颗粒、夹杂物)
1.透明基底上的缺陷
2.单层污渍或薄膜不均匀性
3.化合物半导体的晶体缺陷
在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷
缺陷类型
薄厚基板
透明和不透明基板
电介质涂层
金属涂层
键合硅片
开发和在线生产
地图和位置
缺陷数量
彩色编码缺陷
缺陷尺寸
Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪,AT2
Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪信息由优尼康科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
ISO 9935:1992 无损检测 穿透缺陷检测仪 总技术要求
KS B ISO 9935:2001 无损检验.穿透缺陷检测仪.总技术要求
SANS 9935:2004 无损检验.穿透缺陷检测仪.总技术要求
KS B ISO 9935:2016 无损检验 穿透缺陷检测仪 总技术要求
JB/T 11260-2011 无损检测仪器.声脉冲检测仪
JB/T 11609-2013 无损检测仪器 声振检测仪
QB/T 4592-2013 纸容器缺陷在线检测仪
JB/T 11259-2011 无损检测仪器.多频涡流检测仪
JB/T 12454-2015 无损检测仪器 声扫频检测仪
JB/T 13941-2020 无损检测仪器 远场涡流检测仪
JB/T 13940-2020 无损检测仪器 涡流电导率检测仪
JB/T 11780-2014 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验
JB/T 11277-2012 无损检测仪器 单通道声阻抗检测仪
JB/T 12455-2015 无损检测仪器 涡流扫频检测仪
JB/T 11611-2013 无损检测仪器 涡流-磁记忆综合检测仪
JB/T 13939-2020 无损检测仪器 涡流测厚仪
JB/T 7406.2-1994 试验机术语.无损检测仪器
AS B259.3:1968 无损检测术语表 放射缺陷检测
GB/T 26832-2011 无损检测仪器 钢丝绳电磁检测仪技术条件
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