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发布时间:2024年06月
OLED寿命老化测试系统
简介
该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统,主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
1、系统主要测试参数
绘制OLED寿命老化曲线
2、系统特点
·可根据实际需要定制多通道测量(96通道、128通道)
·可提供恒温恒湿测试环境,模拟真实使用情况
恒温恒湿箱参数:
箱体尺寸
具体尺寸待定
温度范围
-40℃~150℃,或-20℃~150℃,或0℃~+150℃多个温度范围(用户可根据实际测试需求选择)
升温速率
2℃~4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载)
降温速率
0.7℃~1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载)
解析精度(显示)
温度:±0.01℃
解析湿度(显示)
±0.1%R.H
温度波动度
±0.5℃
温度均匀度
±2.0℃
湿度范围
20%~98%R.H [25℃-85℃内]
湿度波动度
±2.0%R.H.
湿度偏差
±3% [湿度>75%RH 时]
总功率/电压
5KW/380V
控制功能
触控显示屏,温度设定可采用定值或程式编辑,可定时;标配USB接口,电脑只可读取温度数据,不能控制温度,需通过触控显示屏操作
3、测试原理
OLED寿命老化测试系统,-
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