晶圆级超快三维磁场探针台(Hprobe)

IBEX-300晶圆级超快三维磁场探针台

法国Hprobe公司于2017年3月在法国格勒诺布尔地区成立，旨在为集成电路领域提供快速、准确和灵活的测试设备，主要应用方向为磁随机存取存储器(MRAM)。MRAM技术作为芯片上系统嵌入式内存(SoC)的替代技术，越来越多的微电子行业的主要厂商对MRAM技术感兴趣，相应的高端测试设备需求也随之增加，而Hprobe公司生产的IBEX-300晶圆级超快三维磁场探针台为一个不错的选择。 

相比于其他的探针台， IBEX-300晶圆级超快三维磁场探针台是专门用于晶圆片在磁场作用下的表征和测试的仪器，它使用的三维磁场发生器和先进的可定制硬件，为磁性器件（传感器和存储器）的开发、工艺和生产带来了完整的测试解决方案。

主要特点： 

主要应用方向：
■   磁性隧道结

■   磁随机存取存储器

■   集成磁传感器(Hall, GMR, TMR)

■   智能传感器 

技术原理：

相关参数： 

技术视频介绍：

快速扫场能力：

仪器配置：     

Hprobe探针台配备整套仪器驱动和测量大多数磁性器件，如MRAM (STT、SOT、电压控制)、传感器(AMR、GMR、TMR)和磁性MEMS。仪器可以包括源表和测量单元（SMU）、数字万用表（DMM）、任意波形发生器（AWG）、脉冲发生器（PG）、交换矩阵、数据采集板等。其他仪器可根据要求提供，并且可以很容易地集成到工具的硬件和软件中。 

探针卡：

Hprobe探针台使用非常灵活，用户可以使用标准的商用探针卡，也可以使用带有DC和RF探头的微操作器。

测试程序：

该测试程序包含了所有满足用户需求的功能，从器件表征到产品开发，以及转移至生产等。它以三种模式运行:

■  标定模式–设置磁场配置并创建用户定义的图形 ■  工程模式 –运行预执行的测试图形或创建并运行完整的自定义特性和测试 ■  产品模式 –从工程模式中设置具有优化测试时间的测试程序
预先实现的测试模式包括(有或没有磁场):
■  开路/短路 测试 ■  AC/DC I-V, R-V 测试 ■  AC/DC 击穿电压测试 ■  读/写脉冲测试 ■  R-H 角度/幅值 回线测试 ■  误码率测试 ■  器件循环和稳定性测试

晶圆级超快三维磁场探针台,IBEX-300

晶圆级超快三维磁场探针台信息由QUANTUM量子科学仪器贸易（北京）有限公司为您提供，如您想了解更多关于晶圆级超快三维磁场探针台报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。