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ISS FLIM荧光寿命成像(ISS)

北京培科创新技术有限公司

“ 美国ISS——全球唯一同时提供时域TCSPC和数字频域FastFLIM™两种荧光寿命成像技术解决方案!”市场上荧光寿命的测量方式可分为时域法和频域法,两者在本质上是相通的,测量精度相近,频域技术是时域法的傅里叶变换的延伸。时域和频域技术在各种显微寿命成像平台中都有应用,时间相关单光子计数方法(TCSPC )是zei为常见的时域技术,而新兴的数字频域技术(FastFLIM™ )则取代了传统的模拟频域技术,凭借其独恃的优势成为应用zei广的频域技术。

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