XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪

描述：XEMIS是一款高精度吸附式微量天平，适用于极端环境下的精密称量。

英国Hiden公司生产的XEMIS磁悬浮天平（Magnetic Suspension Balance）使用Hiden独特的外部感知技术(Exosensing Technology)，把敏感组件置于天平室外部，以防止对天平的污染或腐蚀。

特点

·XEMIS可作为一个独立的天平使用

·所包含Hiden Isochema控制软件，能记录动力学数据与吸附性能，也可以与客户现有的气体输送系统联用。

·可配备吸附研究的自动化气体输送系统，从而转为全自动吸附仪使用。

·在一个温度范围内，可以对不同的吸附物进行多个等温线编程和自动测量。

·无需重新归零或原位校准

·全金属结构由高品质的VCR装配

·模块化设计，与所有配件兼容且可升级

·单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

·独特设计的微量天平横梁安置在由金属VCR密封的低容室内

·对称设计的流量和浮力补偿

·用于腐蚀性气体测量时与其它磁悬浮天平所测试的气体和蒸气兼容

参数 

·最大操作压力：      200bar

·大容量微量天平：   5g

·分辨率：               0.2μg

·长期稳定性：        ±5μg

·宽动态称量范围：  0-200mg 

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

• 外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作

• 几何对称、精密设计的微量天平

• 内部容积最小化

• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

• 宽动态称量范围（0-200毫克）

• 操作压力高达200bar

• 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

• 无需重新归零或原位校准

• 采用IGA特有的终点预测方法

• 全金属结构由高品质的VCR装配

• 模块化设计，与所有配件兼容且可升级

产品应用
XEMIS的应用领域:

• 气体吸附分析

• 等温线的测定

• 动力学分析

• 热力学研究

• 储氢

• 甲烷存储

• 二氧化碳封存

• 气体的分离与纯化

• 超临界气体吸附

• 页岩气和煤层沼气研究

• 离子液体中的气体溶解度测量

• 化学吸附研究

• 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)

• 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架

• 活性炭、碳分子筛和模板碳

• 沸石和沸石类物质

• 多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。

XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪信息由北京英格海德分析技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。