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徕卡显微镜Leica DM3 XL 微电子和半导体用检验系统(徕卡)

圆派科学仪器(上海)有限公司

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在微电子和半导体行业中,检验、过程控制或缺陷和故障分析的速度至关重要。检测缺陷的速度越快,您做出响应的速度也就越快。DM3 XL 检验系统凭借大视场帮助您的团队更快地识别缺陷,提高您的收益率。充分利用独特的宏观物镜,视场宽敞 30%。

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