HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱技术优势
1.较新优化设计,占地空间小,不受地域空间限制,并采用大视窗观察窗口,试验产品状态可视化较强。
2.采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗。
3.采用 7″TFT真彩LCD触摸屏,比其它屏较大,较直观,操作较简单,运行较稳定。
4.设备的水路配电盘分离,确保它稳定可靠安全。
5.蒸发器采用水浸查漏方法,查漏彻底,确保设备稳定运行。
6.采用模块化制冷机组,能确保制造质量,且维护替换非常方便。
7.可低温连续有效运行1000小时不结霜,温度不回升。
8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法的功能。
HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱
1.型号:DR-HAST-25工作室尺寸:Φ25×D40
2.型号:DR-HAST-35工作室尺寸:Φ30×D45
3.型号:DR-HAST-45工作室尺寸:Φ40×D50
4.型号:DR-HAST-55工作室尺寸:Φ50×D60
HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱,DR-HAST-350G
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