HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱(德瑞检测)

 HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱技术优势

1.较新优化设计,占地空间小，不受地域空间限制，并采用大视窗观察窗口,试验产品状态可视化较强。

2.采用抽屉式大容量水箱,试验时间长,并易拆卸清洗。

3.采用 7″TFT真彩LCD触摸屏，比其它屏较大，较直观，操作较简单，运行较稳定。

4.设备的水路配电盘分离，确保它稳定可靠安全。

5.蒸发器采用水浸查漏方法，查漏彻底，确保设备稳定运行。

6.采用模块化制冷机组，能确保制造质量，且维护替换非常方便。

7.可低温连续有效运行1000小时不结霜，温度不回升。

8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法的功能。

HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱

1.型号:DR-HAST-25工作室尺寸:Φ25×D40

2.型号:DR-HAST-35工作室尺寸:Φ30×D45

3.型号:DR-HAST-45工作室尺寸:Φ40×D50

4.型号:DR-HAST-55工作室尺寸:Φ50×D60

HAST试验箱 半导体高加速应力测试箱,DR-HAST-350G

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