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DECTRIS ARINA®可伸缩电子计数探测器是专门为4D STEM应用开发的。它采用了一个全新的专有集成电路设计(ASIC),结合高达每秒12万帧的理想速度、高动态范围和无噪音的读出能力,从而使高质量的数据采集达到传统STEM探测的原生速度。得益于DECTRIS的混合像素技术,ARINA可以采用不同的传感器材料,并能在30-300 KeV的整个能量范围内都有理想表现。它拥有结构紧凑的设计和一个20 mm乘20 mm或192像素乘192像素的有效区域。 DECTRIS ARINA 适合于停留时间低于10 μs的广泛 4D STEM应用,包括从晶相 和取向分布分析到层叠成像技术,以及使用虚拟探测器进行灵活的 STEM 图像重建。
技术规格
帧频(max)
120,000 Hz
计数率(max)
10^⁸ el/s/pixel
像素数
192 x 192
像素大小
100 x 100 µm²
传感器材料
硅 (Si) 或CdZnTe
能量范围
30 - 300 keV
探测器安装
可伸缩
专为4D STEM设计的混合像素探测器 DECTRIS ARINA, DECTRIS ARINA
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采用DECTRIS混合像素技术的ELA®探测器为电子能量损失谱(EELS)提供了前所未有的速度,灵敏度和动态范围,是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流,同时记录高强度的零损峰和高损峰,并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果,特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力,您不仅不会在两帧图像之间丢失电子,确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合,DECTR
DECTRIS SINGLA® 探测器是一款针对生命科学应用进行了优化的混合像素电子计数相机。它的敏感面积约为 1,000 x 1,000 像素,适用于冷冻电子显微镜 (cryoEM) 和微电子衍射 (microED) 应用。单颗粒分析和冷冻电子断层扫描的实验也从该探测器的速度中受益匪浅。此外,SINGLA探测器的快速读出速度(超过每秒2,000帧)加上其卓越的动态范围,使其成为小分子和3D微晶体学的理想探测器。该检测器安装在底部,与 JEOL 和 The
新型的DECTRIS QUADRO® 探测器为材料科学研究TEM提供了理想性的性能,不断突破电子探测的极限。同时,这款直接电子探测器能够在很高计数率下实现单电子探测的能力。并且保持理想的动态范围、速度及探测灵敏度,而不必担心透射电镜高能汇聚电子束对探头的损伤。
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