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[产品简介]蔡司X射线显微镜XradiaCrystalCT,是一种商业化实验室衍射衬度断层成像(DCT)系统,它是建在微米CT上的。该系统能够为工业和科研实验室提供解决方案,实现各种金属和合金、增材制造、陶瓷和药物样品等多晶材料的三维晶体学成像。同时,通过最新的高级数据采集模式,XradiaCrystalCT可以实现大样品体区域的无缝数据采集,提高采集速度并减少样品准备时间。相较于传统的破坏性三维晶体学成像方法,大体积的无损晶粒成像能够大幅提高实验数据体的代表性。XradiaCrystalCT建立在高度成熟稳定的蔡司XradiaVersa平台上,具备图像质量、稳定性和易用性均属上乘,且具备高效的工作流环境和高通量扫描功能。它还兼容ART3.0高级重构工具箱,可以利用AI技术提高成像效率或改善成像质量。[产品特点]ü 可测晶粒尺寸20umü 晶粒取向角分辨率0.1°ü 各种晶型全覆盖ü 样品尺寸可达几个mmü 基于“黄金角”的高级扫描模式ü 高分辨率微米CT成像可实现高达500nm体素分辨率的成像,成像空间分辨率达到0.95umü 可实现大视野CT成像,单次扫描即可对宽度达140mm、高度达93mm的大样品进行成像[应用领域]ü 材料科学,如钢铁,合金材料,陶瓷等晶体分析及微观结构断层扫描成像ü 生命科学,如药物晶体分析,或微观结构断层扫描成像ü 地球科学,如橄榄石晶体分析,或微观结构断层扫描成像ü 工业领域,如冶金,太阳能多晶硅板晶体分析, 或微观结构断层扫描成像、工业检测。
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