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Sarfus HR stations 表面对比增强椭圆偏振显微镜是免标记、纳米级实时样品表征的分析仪器,基于独特的(SEEC)表面对比增强椭圆偏振显微技术。 Sarfus HR stations可追踪表面的变化,提供高横向分辨率的实时图像和厚度测量。这将为研究分子相互作用,层次与形态变化,生物膜组装等表面现象提供更多的信息。仪器简单易用,只需几秒就可完成样品表征,并为特定环境下样品的分析提供多种组件。
Sarfus HR stations是一个完整的一站式仪器,包括仪器,软件与电脑。每一个仪器组件都经过严格挑选,确保提完美的图像质量和zei高的纳米级测量精度。
仪器功能:
• 实时观测薄膜/分辨率达纳米级
• 纳米薄膜和纳米图案形貌分析
• 实时研究分子的吸附和解吸
• 适时研究(生物)薄膜的组装和降解
• 实时观测纳米物体的分散
• 实时观测纳米物体/生物层的相互作用
• Graphene & monosheet石墨烯&纳米片表征
• 表征溶胀/热响应的效应
• …
软件:Sarfus HR stations提供易于操作和功能强大的软件Sarfusoft 和 Mountains Map.
性能参数:
灵敏度
厚度
精度
Air
<0.1nm
[0-300nm]
0.2nm
Water
<0.2nm
[0-60nm]
0.3nm
研究对象:
纳米薄膜 纳米图案 LB膜 聚电解质层 石墨烯 纳米颗粒
液晶 脂质层 生物膜 涂层 纳米管 SAMs 细胞膜/薄膜 分子层 生物切片
SEEC表面对比增强椭圆偏振显微镜,Sarfus HR Stations
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